復(fù)式絕緣子目前用量巨大，但芯棒工藝控制不好時會留下缺陷，運(yùn)行中持續(xù)發(fā)展出現(xiàn)斷串、擊穿故障。為將故障消除在萌芽中，復(fù)合支柱絕緣子芯棒缺陷的診斷顯得非常重要。對運(yùn)行單位而言，帶電檢測手段是兼顧可靠性與設(shè)備狀態(tài)感知的很好的手段，目前對于復(fù)合絕緣子帶電檢測相對有效、成熟的手段是紅外、紫外測試。

復(fù)合絕緣子的發(fā)熱來源主要有極化損耗、局部放電、泄漏電流等。前兩者都源于缺陷引起的電場過分集中；泄露電流發(fā)熱多見于絕緣子傘面發(fā)生劣化的情況，泄露電流集中在劣化部分，與周圍出現(xiàn)明顯的溫差。通常氣隙、碳化通道的端部由于局部放電情況的存在將成為“熱點(diǎn)”，而碳化通道中間部分由于電場較弱，往往溫度較低。

由于復(fù)合絕緣子屬電壓致熱型設(shè)備，其溫度場測試容易受到外部環(huán)境影響。陽光、可見光較強(qiáng)時，會造成電力絕緣子向陽面、背陽面溫度的差異，造成芯棒不同側(cè)面的溫差。

復(fù)合絕緣子碳化通道和蝕損等缺陷引起電暈時，利用紫外成像儀可對電暈實(shí)現(xiàn)觀測。紫外法的優(yōu)點(diǎn)是檢測距離遠(yuǎn)，對電暈的檢測靈敏度高，利于盡早發(fā)現(xiàn)缺陷，對導(dǎo)通性缺陷的檢測靈敏度高于紅外法。紫外法的缺點(diǎn)是能檢測的缺陷類型較受限，并非所有缺陷都產(chǎn)生穩(wěn)定電暈，如芯棒表面的裂紋只有受潮后才會產(chǎn)生電暈，但此時絕緣子表面雨滴也可能產(chǎn)生電暈。紫外法對光照有一定要求，對檢測位置要求較高，只有在放電的正面才能得到放電圖像，因此紫外對于絕緣子局部缺陷的判斷則主要處于輔助地位，通常與紅外法配合使用。